自由跌落試驗
自由跌落試驗 試驗介紹
自由跌落試驗是一種常用的產(chǎn)品質(zhì)量檢測方法，主要用于模擬產(chǎn)品在正常使用過程中可能遭受的跌落沖擊，以檢驗產(chǎn)品是否能夠承受這種沖擊而不受損。這種試驗通常使用專業(yè)的跌落試驗設(shè)備，通過讓產(chǎn)品從一定高度自由落下，以模擬產(chǎn)品在日常使用中可能遇到的跌落情況。 自由跌落試驗的主要目的是評估產(chǎn)品的耐久性和安全性。中科檢測開展自由跌落試驗服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。
自由跌落試驗 試驗范圍
包裝、紙箱、箱包、電子產(chǎn)品、電器設(shè)備等。
自由跌落試驗 試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 12085.13-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Ed:自由跌落
GB/T 12085.13-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫
JB/T 13702.5-2019 照相機環(huán)境試驗 第5部分：自由跌落試驗
JIS C5402-7-1-2016 電子設(shè)備連接器. 試驗和測量. 第7-1部分: 沖擊試驗 (自由連接器). 試驗7a: 自由跌落 (重復(fù)性)
TIS 2380.2-32-2013 基本環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Ed:自由跌落
SN/T 2498.2-2010 進出口煙花爆竹制品基本環(huán)境試驗規(guī)范.試驗Ed:自由跌落
DIN EN 2591-421-2003 航空航天系列.光電連接元件.試驗方法.第421部分:自由跌落
KS C 0244-2001 環(huán)境試驗方法.電工·電子產(chǎn)品.自由跌落試驗方法
JB/T 8250.4-1999 照相機 自由跌落試驗方法
